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中盛科技RFID标准符合性测试系统



产品简介:
RFID测试系统概述

中盛科技设计的UHF RFID标准符合性测试系统通过结合泰克公司的实时信号分析仪和信号源以及定制的信令单元为硬件平台,配合符合RFID标准的一致性测试软件,实现了全面的RFID测试。该测试系统可以实现完整的射频指标测试和协议层测试,涵盖了ISO/IEC 18000-6B、ISO/IEC 18000-6C以及C1G2标准,参考ISO/IEC 18047-6、18046-3以及国内的RFID标准试行规定实现了对UHF RFID读写器和标签的标准符合性测试。

同时,根据UHF RFID实际使用中的遇到的读写器和标签的碰撞问题,提供了碰撞测试和碰撞原因分析工具,借助泰克公司的实时频谱仪的实时观测功能和时间相关多域观测功能,实现了对RFID设备碰撞问题的诊断和分析,便于快速优化读写器以及系统应用设计。该系统是业内唯一一个实现完整的RFID符合性测试并提供碰撞测试的系统测试方案。

泰克的实时信号分析仪是业内第一个用于国际RFID一致性认证测试所采用的仪器,其独特的实时观测(DPX)实时捕获(FMT,Density Trigger)功能和时间相关多域分析功能特别适合RFID信号的测试和分析,完全满足RFID系统数字化、智能化、瞬态信号的测试需求。



参数特点:

               

 

泰克实时频谱仪实时观测(DPX技术)读写器和标签的频谱


2 RSA5106A检测RFID信号的时域显示图


图3   实时频谱仪多域显示,同时显示实时频谱和时域包络
 
从图1可以看到,实时频谱的实时显示了读写器的信号和多个标签同时存在的碰撞场景,可以利用实时频谱仪的实时显示技术清楚的看到2个标签同频的频谱。
从图2可以从时域上清楚的看到读写器的时域显示和标签的时域显示。

图3显示的是多域显示的界面,左边是实时频谱,右面是时域显示。
 

1 、标签/读写器性能测试
标签/读写器性能测试是指测试其作为产品的功能实现全面性与可靠性。
对于标签的测试主要包括:(1)写响应速度(2)防碰撞效率(3)内存格式支持能力等。
对于读写器测试主要包括:(1)防碰撞能力(2)批量盘点能力(3)盘点抗干扰能力(4)读写速度处理响应时间等。
 
2 、标签/读写器射频一致性测试
标签/读写器射频一致性是指测试其发射或反射的无线信号质量,测量无线信号关键参数,分析无线信号传输环境的好坏,并对无线信号进行解调与译码,同时核对其与当地无线电频率管理部门规范的匹配度,从而避免不合格产品对无线电频谱造成干扰。
射频一致性测试主要包括:(1)频率谱密度测试;(2)中心频率测试;(3)信号带宽测试;(4)信号带外干扰测试;(5)信号能量测试;(6)信号眼图测试;(7)信号包络测试;(8)信号解调测试;(9)信号译码测试;(10)时域上升/下降沿测试;(11)调制深度测试等。
 
3 、标签/读写器协议一致性测试
协议一致性测试系统主要是测试标签协议层的实现与标准要求的匹配程度,例如查看状态机覆盖是否完整、跳转是否正确,强制性指令与可选性指令的实现程度,读写器发送命令与标签返回信息的时间间隔落是否在标准中要求的范围之内等。

协议一致性测试主要包括:(1)物理层协议测试(帧结构、符号速率、调试编码方式);(2)状态机测试;(3)指令协议测试;(4)协议处理时间分析(T1/T2/T3/T4时间测试);(5)读写器防碰撞协议分析(碰撞概率、Q值调整策略分析);(6)内存格式分析;(7)前导序列检测等。
 


总体框图
RFID测试系统的整体的硬件结构框图如下图所示: